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opticsの品質

レーザ製造において、生産性の理由のため使用されているパワーは、6または8、または10 kW、それ以上のレンジまで大きく増加します。これは、加工ヘッド、言い換えればパワー依存焦点移動で使用されるopticsにおける負荷を上昇します。オプティクスの吸収特性及び汚染レベルは、レーザシステムの製造会社にとって、opticsの品質保証と共に、ますます大きな問題となっています。


測定方法

OpticsQualityMonitorは、サプライヤーと製作者、または品質保証のユーザによるオプティクスの吸収プロパティの試験を可能とします。これは、オプティクスが仕様において製造されていることだけではなく、それらが利用の間要件と同等であることを保証します。これは、製造プロセスにおける製造または取扱いエラーの特定を可能とし、オプティクスは利用中の最高のパフォーマンスをお届けすることを保証します。

OQMは、半透明のオプティクス要素の吸収と、例えばリファレンスオプティクスの吸収を伴う加工ヘッド(レンズまたはフラットなオプティカル)を比較します(同じタイプ:曲率、及び反射防止膜の素材、屈折、インデックス、直径、半径)。このプロセスにおいて、オプティクスにより吸収されたレーザ

操作

温度の測定は接触なく行われ、つまり、測定の間オプティクスの測定、または実装を通してオプティクスにおいて、変化が全くありません。これはOQMを、高パワーレンジにおいて使用されるオプティクスの流入、または流出する商品の確認にとりわけ最適にします。

オプティクス的平面における温度上昇の測定は、異なるサプライヤーにより供給された商品間、または異なるシリーズ製造間における、シリーズ製造において、オプティクスの吸収に関して作成される比較できるステートメントを可能とします。しかし、絶対吸収値は測定されません。

OpticsQualityMonitorは、インテグレーティッドレーザ及び冷却器で保存するクラス1レーザハウジングで提供されます。このデバイスは、クリーンルームにおける使用を想定しています。

技術データ

測定システム

  • 500 Wシングルモードレーザ (1070 nm)
  • 10 ms 時定数及び10 mK レソリューション(12から16 µm)を伴う高温度計
  • 測定サンプルにおける2 mmのスポット径(ヒートスポット及び測定されたスポット)


オプティクスデータ

  • 60 mmまでのサンプルの直径
  • 25 mmまでのサンプルの厚さ
  • 12 mm以上の曲率の半径
  • 反射防止膜が必要


容量及び精度

  • 試験容量:毎時間約4オプティクス
  • 再現性± 0.1 K
  • 絶対吸収の校正なし